16 | 04 | 2014
Фізико-хімічні методи аналізу PDF Друк
Середа, 28 березня 2012, 10:26

Опис кредитного модуля (дисципліни): “Фізико-хімічні методи аналізу“

Статус кредитного модуля : Обов ' язковий

Інститут/ факультет : Видавничо-поліграфічний Інститут

Кафедра Репрографії

1. Загальні відомості

Модуль: „Фізико-хімічні методи аналізу” входить до циклу дисциплін математичної та природничої підготовки за програмою ступеневої вищої освіти освітньо-кваліфікаційного рівня магістр професійного спрямування напряму підготовки 0515 „Видавничо-поліграфічна справа”.

Для вивчення цієї дисципліни необхідне засвоєння модулів (дисциплін) „Вищої математики” (шифр НФ-01 , обсяг кредитів - 16,5 ECTS ), „Фізики” (шифр НФ-03, обсяг кредитів - 6 ECTS ), „ Фізико-хімічні основи технології поліграфічних виробництв” (шифр НП-05, обсяг 4 кредити ECTS ), „Загального матеріалознавства” (шифр НП-04, обсяг кредитів - 4 ECTS ) відповідно до навчального плану напряму підготовки 0515 „Видавничо-поліграфічна справа”, затвердженого першим проректором НТУУ „КПІ”.

ІІ. Розподіл навчального часу

Семестр Код кредитного модуля Всього (кред./год) Розподіл за видами занять
(всього год.)
СРС Модульні контрольні роботи (кількість) Індивід. завдання (вид) Семестрова атестація (вид)
Лекції Практичні/ семінарські Лабораторні/ комп'ютерний практикум
11
НП-09
162
18
18
26
10 0
-
-
іспит

ІІІ. Мета і завдання модуля (дисципліни)

Мета викладання дисципліни полягає у вивченні основ сучасних фізико-хімічних методів аналізу, таких як спектральний, рентгеноструктурний, рентгеноспектральний методи, емісійний та оже - спектральний аналізи, атомна абсорбційна спектроскопія для визначення властивостей матеріалів, їх фазової будови, складу, закономірностей змін структури і властивостей у процесах їх виробництва та експлуатації для одержання навиків самостійного творчого вирішення реальних конкретних завдань з виготовлення поліграфічної продукції. Дисципліна готує студентів до виконання дипломних робіт освітньо-кваліфікаційного рівня магістр.

В завдання вивчення дисципліни входить закріплення практичних навичок та теоретичних знань з різних видів фізико-хімічних методів досліджень матеріалів загального та поліграфічного призначення, опанування методиками сучасних тонких методів налізу фізико-хімічних властивостей матеріалів.

В результаті вивчення дисципліни студент повинен уміти :

— оцінювати хімічний склад матеріалів за допомогою спектрального аналізу ;

— оцінювати фізико-хімічні властивості матеріалів із застосуванням рентгенівських та емісійних спектральних методів досліджень ;

— визначати придатність матеріалу за результатами оже-спектрального та атомно-абсорбційного методів аналізу для випуску відповідної продукції .

В результаті вивчення дисципліни студент повинен мати навички :

— у виборі матеріалів на основі визначення їх складу, структури та властивостей залежно від експлуатаційних вимог;

— у аналізі хімічного складу та структури матеріалів, що змінюється під впливом технологічних режимів виготовлення та обробки;

— у методах визначення структури, фізичних, фізико-хімічних, хімічних технологічних, споживчих властивостей, методах керування ними.

В результаті вивчення дисципліни студент повинен знати :

—основи сучасних фізико-хімічних методів аналізу матеріалів, взаємозв'язок складу, структури і властивостей матеріалів, їх зміни під впливом технологічних факторів;

- нормативно-технічну документацію з тонких методів аналізу властивостей матеріалів загального та поліграфічного призначення.

І V . Зміст дисципліни (кредитного модуля)

Тема 1. Вступ.

1.1. Предмет і завдання дисципліни, її значення у підготовці технологів-матеріалознавців поліграфічного виробництва.

1.2. Розвиток сучасних фізико-хімічних методів аналізу матеріалів, стан техніки. Новітні тенденції розвитку. Наукові теоретичні і експериментальні школи.

Тема 2. Рентгеноспектральний мікроаналіз матеріалів.

2.1. Будова рентгеноспектрального мікро аналізатора.

2.2. Кількісний рентгеноспектральний аналіз.

2.3. Реалізація методу рентгенівського мікроаналізу на прикладі растрового електронного мікроскопа-мікроаналізатора РЕММА-101 А.

Тема 3. Емісійний спектральний аналіз.

3.1. Загальні принципи емісійного спектрального аналізу.

3.2. Спектрографи для емісійного спектрального аналізу.

3.3. Основні задачі емісійної спектроскопії.

Тема 4. Атомна абсорбційна спектроскопія.

4.1. Основні принципи атомної абсорбційної спектроскопії.

4.2. Конструкція абсорбційних атомних спектрометрів.

Тема 5. Оже - спектроскопія.

5.1. Принципи реалізації оже - спектрального аналізу.

5.2. Конструкція оже - спектрометрів.

5.3. Основні задачі оже - спектрального аналізу.

V . Методи навчаннята інформаційно-методичне забезпечення

Згідно з робочою навчальною програмою дисципліни використовуються такі методи навчання: подання теоретичного матеріалу — на лекційних заняттях з використанням електронних демонстраційних засобів; поглиблення та закріплення теоретичного матеріалу та засвоєння практичних методик аналізу та розрахунку фізико-хімічних властивостей матеріалів та обладнання — на практичних заняттях та лабораторних роботах; ознайомлення з фізико-хімічними методами випробувань матеріалів на поліграфічних підприємствах галузі — на практичних та лабораторних заняттях і екскурсіях на виробництві.

Перевірка отриманих знань та навичок — проведення модульної контрольної роботи, виконання тестових контролів; перевірка знань і розуміння аналізу структури і властивостей матеріалів, визначення властивостей — семестровий іспит.

Для вивчення та закріплення теоретичного матеріалу, виконання практичних та лабораторних робіт застосовується нормативно-технічна документація, що роздається викладачем на практичних та лабораторних заняттях (Методичні вказівки, ДСТУ, ГОСТи).

Для самостійного опанування завдань дисципліни рекомендовано список джерел, який доступний у науково-технічній бібліотеці НТУУ „КПІ”, методичному кабінеті кафедри репрографії, сайтах мережі Інтернет.

Основна література:

1. Мохорт В.А. Методи спектрального аналізу: Навчальний посібник.— К: ІВЦ Вид-во «Політехніка», 2003.-60 с.

2. Куницький Ю.А., Кутина Я. І. Електронна мікроскопія.— К.: Либідь, 1998.-390 с.

3. Геллер Ю.А., Рахштадт А.Г. Материаловедение.-М.: Металлургия, 1989.-447 с.

4. Структурні і фізичні властивості твердого тіла: Лабораторний практикум/ Під ред. Л.С. Палатника.- К.: Либідь, 1992.-311 с.

5. Обробка сигналів: Підручник/ В.П. Бабак, В.С. Хандецький, Е. Н. Шрюфер.- К.:Либідь, 1996.-392 с.

Додаткова:

6. Будова рідких, аморфних та кристалічних матеріалів: Підручник/ С.І. Сидоренко, М.В. Білоус, М.О. Васильєв та ін. – Миколаїв:Вид-во УДМТУ, 1999.-265 с.

7. Черепин В.Т., Васильєв М.О. Методы и приборы для аналыза поверхности материалов.-К.: Наукова думка, 1982.-399 с.

8. Приборы и методы физического материаловедения/ Под р htl Вейнберга.-Вып.2.-М.:Мир, 1974.-364 с.

Індивідуальне консультування здійснюється у встановлені дні й години згідно з графіком проведення консультацій, затвердженого на кафедрі репрографії.

V І. Мова

Викладання дисципліни ведеться українською мовою. Окремі пояснення і тлумачення термінів може здійснюватися російською мовою як вийняток за наявності у академічних групах іноземних студентів.

V ІІ. Характеристика індивідуальних завдань

Індивідуальні завдання програмою дисципліни не передбачені.

VІІІ. Методика оцінювання

Застосовується рейтингова система оцінювання знань студента з кредитного модуля, яка складається зі 100 балів. Студента отримують бали за виконання практичних робіт і поточних тест-контролів. Семестровим контролем є залік/ диференційований залік/ екзамен. За тією ж системою оцінюється виконання і захист КП / КР.
За набрані протягом семестру бали, студент одержує відповідну оцінку з дисципліни згідно з наведеною нижче таблицею оцінювання.
Бали ECTS оцінка Національна оцінка
Екзаменаційна оцінка Залікова оцінка
100-95 A Відмінно Зараховано
94-85 B Добре
84-75 C
74-65 D Задовільно
64-60 E
59-40 Fx Незадовільно Не зараховано
Менше ніж 40 F Не допущено Не допущено

ІХ. Організація

Порядок реєстрації на вивчення дисципліни та на семестрову атестацію здійснюється деканатом ВПІ НТУУ „КПІ” на підставі відповідних документів і положень.